DSA8200回收

DSA8200回收
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DSA8200采样示波器
为最具挑战的系统设计提供信号高保真度
当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于最高的
TDR带宽、最快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试，DSA8200数字串
行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。
DSA8200功能
最多4个真实差分通道
高带宽（50 GHz）时域反射仪
光学模块噪声低，光学灵敏度高，拥有消光比校准功能及宽波长。
IConnect? 信号完整性
串行数据网络分析 (SDNA)
串行数据链路分析 (SDLA)
远程采样头
DSA8200优点
利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备，如放大器。
以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
通过一个光学测试解决方案，满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。
利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信
号串扰和抖动，确保可靠的系统运行。
通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设
置最大化接收器的眼睁时间。
通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。

泰克公司宣布推出新型DSA8200数字串行分析仪取样示波器、全新的远程取样电子模
块和增强型IConnect?软件，使其成为串行数据网络分析应用的理想解决方案。全新TDR
（时域反射技术）和电子模块是TDR测试技术20年来最重要的成果，及时地解决了高速
串行数据标准带来的更高要求和挑战。 数千兆串行标准的出现促使功率预算和时序容限
下降。因此，准确分析时域和频域中的信号路径和互连情况，对于全面了解当今高速串
行设计中信号损失和串音的影响至关重要。PCI Express、串行ATA、XAUI和Infiniband等业
界标准，逐渐开始要求使用S参数和阻抗测量来描述这些影响的特征，同时确保系统的互
操作性。借助提高2.5倍的TDR性能和新式自动化工具，新的DSA8200解决方案完全符合
串行数据网络分析要求。DSA8200代表最高的性能和最经济的解决方案，可针对当前和
各种新兴标准的1 Gb/s到12.5 Gb/s串行数据率，实现准确且可重复的S参数测量。DSA8200
“工程师很难准确地描述信号路径对数千兆串行数据传输的影响。”泰克公司光电产品线总
经理Brian Reich指出。“对于串行数据网络分析而言，泰克DSA8200解决方案为工程师提供
了一套节约时间和成本的全能型工具。早先的替代品是一种专业频域仪器——矢量网络分析
仪（VNA）。但是，VNA需要繁琐的设置和校准步骤，而且比新型的泰克TDR解决方案昂贵得
多。用DSA8200主机、新的电子模块和Iconnect，只需要几分钟即可完成串行数据网络分析中
的TDR和S参数测量程序，而用VNA通常需要花费几个小时来安装和执行。” 四个新型电子模块
将高带宽和低噪音结合在一起，以应对低功率、高比特率差分信号的发展趋势。这些模块包括
一些高级实用功能，如±250 ps的通道到通道和模块到模块校正、用户可选择带宽以及体积小巧
的远程取样器等。每个通道都有一个完全集成的2m电缆和远程取样器，取样器将TDR头紧靠受测
设备（DUT），最大限度地降低探针、电缆和夹具的影响。这可确保系统尽可能保持一种真实状态
，以保证测量准确性和可重复性。80E10双通道真差分TDR模块提供12 ps入射和15 ps反射TDR上升
时间、50 GHz带宽和600 ?VRMS噪音（该性能级别的最低噪音）。80E10能够独立生成阶梯信号用
于真差分测量，此外还确立了业界领先的全集成系统规范，是20年来TDR性能取得的最重要成果。
其他模块包括80E08，这个双通道TDR电子模块具有18 ps入射和20 ps反射上升时间，30 GHz带宽
条件下噪音为300 ?VRMS。两个新的双通道低噪音电子模块 80E09和80E07，在60 GHz和30 GHz条
件下的噪音分别为450 ?VRMS和300 ?VRMS。DSA8200
IConnect软件可对千兆串行数据互连进行有效简便的信号完整性分析。IConnect能够迅速测量插入损
失和回波损失、反射、眼图、抖动、串音、反射和振铃。IConnect产品系列有三种产品配置：Iconnect、
IConnect S参数和带MeasureXtractor的Iconnect。IConnect应用程序包括信号路径完整性分析、阻抗特征、
S参数（插入损失和回波损失）、眼图一致性测试以及故障隔离。 新的命令行界面（CLI）支持自动化多
端口 S 参数测量和其他一致性测试，可明显缩短校正和测试时间，同时增加测试可重复性。通过使用自
动化CLI脚本，通常需要数个小时来安装和执行的测试程序，现在几分钟内就可以完成，大大提高生产率。
IConnect现在还支持高达1M点的长记录。1M内存可在测量长设备（如电缆）时提供足够的S参数频域
分辨率和最高频率。新的EZ Z线观测器可动态调整示波器，以便在封装、PCB和芯片上实现更有效的故
障隔离。IConnect还支持Touchstone文件导出功能。
“泰克公司率先开展基于TDR的S参数测量，并提供最经济有效、产量最高的测量方法来进行数字设计
测量、信号完整性分析和互连一致性测试。”Frost & Sullivan公司测试和测量事业部程序行业经理Kiran
Unni说道。“随着新一代S参数用户对此测量方法的了解，他们会寻找一种仪器解决方案，既要为他们所
熟悉，同时能够提供准确和可重复的结果。DSA8200是具有时间和成本效益的全能型解决方案，能够在
产品开发和制造过程的串行数据网络分析中，实现准确的、可重复的S参数测量。” DSA8200数字串行分
析仪基于新一代的硬件主机，专为日益需要信号路径特征和一致性验证的通信、计算机和消费电子行业而
设计。DSA8200拥有诸多功能及出色的准确性，符合高速串行标准（包括PCI-Express II、FB-DIMM II、SATA
II和10 Gb以太网）中，差分通道互连时域和频域的特性分析、设计验证和一致性验证的需要。
DSA8200扩展了TDS/CSA8200系列的功能，完全支持相同模块和软件。新主机采用高速处理器，具有
Microsoft Windows? XP操作系统的优点，而且用户也对该系统比较熟悉了解。新的前面板安装了DVD/
CD-RW驱动器和USB 2.0端口，使测量和数据文件存储与传输更加便捷。DSA8200具有6个主机插槽，
便于其模块化架构扩展，使用户能够依需配置该仪器，以应对当前和未来各种测量难题。DSA8200最
多可配置4个真差分TDR通道，是任何可用于串行数据网络分析的示波器工具中最多的。
与新的TDR模块和Iconnect功能相结合，全新的DSA8200可提供针对复杂串行数据网络分析和特征
最全面、经济有效的解决方案。DSA8200